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近期蔡司代理昆山友硕小编获悉，借助于蔡司冷冻聚焦离子束扫描电镜Cryo-Crossbeam(Cryo-FIB)，在低温条件下，南京邮电大学辛颢团队成功的制备出Ref和异质结热处理(JHT)薄片样品，并通过X射线能谱仪(EDS)和高分辨透射电镜(HRTEM)分析了两个样品界面处的纳米级微观形貌、元素分布与电子衍射图像差异，系统研究了ACZTSSe电池异质结界面的构建过程。

▲低温热处理前后ACZTSSe/CdS异质结界面性质分析。a，b，EDS元素分布和 Ref (a) 和 JHT (b)高分辨暗场透射电镜图像。c、d，分别在a和 b中突出显示的区域内测量的 Ref (c) 和 JHT (d) 器件的异质结上的 EDS元素线扫描。e-h，Ref(e，f)和JHT(f，h)器件的ACZTSSe/CdS 异质结的局部HRTEM(e，g)和 FFT(f，h)图像。

该工作不仅大幅提升了ACZTSSe太阳能电池的转换效率，突破了ACZTSSe电池异质结界面复合这一瓶颈，而且首次揭示了ACZTSSe太阳能电池异质结界面的构建过程及缺陷形成的内在机制，以及揭示了铜锌锡硫与铜铟镓硒具有完全不同的异质结界面的化学根源。研究结果为该类电池效率的进一步提高提供了新的思路与策略。

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